產(chǎn)前超聲觀察外側(cè)裂評估胎兒腦皮質(zhì)發(fā)育研究進(jìn)展

摘要： 當(dāng)前產(chǎn)前評估胎兒腦皮質(zhì)發(fā)育已成為可能。外側(cè)裂是胎兒大腦表面重要結(jié)構(gòu)，亦為評估胎兒腦皮質(zhì)發(fā)育成熟度及相關(guān)疾病發(fā)生、發(fā)展的重要指標(biāo)。本文就產(chǎn)前超聲通過觀察外側(cè)裂評估胎兒腦皮質(zhì)發(fā)育研究進(jìn)展進(jìn)行述評。 ... （共3頁）