低功率受激輻射損耗超分辨顯微成像技術(shù)研究進(jìn)展及展望
中國激光
頁數(shù)： 18 2024-11-10
摘要： 受激輻射損耗（STED）是一種功能強(qiáng)大的遠(yuǎn)場超分辨顯微成像技術(shù)，已被廣泛用于細(xì)胞和組織切片等生物樣品的超分辨成像。通過增加損耗激光的功率可以顯著提高STED超分辨成像的空間分辨率和成像深度，然而，過高的激光功率會引起嚴(yán)重的光漂白及光毒性。因此，如何在保證成像質(zhì)量的同時(shí)有效降低STED超分辨成像所需的損耗激光強(qiáng)度，是目前STED技術(shù)在生物成像領(lǐng)域面臨的關(guān)鍵挑戰(zhàn)。本文從STED成像... （共18頁）
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