用于Mini/Micro-LED芯片缺陷檢測的全局特征壓縮卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)

摘要： 微型發(fā)光二極管(Mini/Micro-LED)是下一代顯示技術(shù)。隨著Mini/Micro-LED芯片物理尺寸的微小化，制造良品率下降、集成度激增，Mini/Micro LED芯片的快速、精確檢測成為工業(yè)生產(chǎn)的關(guān)鍵。然而由于芯片尺寸小、分布密集，單個目標(biāo)的特征信息占比不足，且工業(yè)檢測要求檢測算法速度快、易部署，Mini/Micro-LED芯片缺陷檢測仍面臨巨大挑戰(zhàn)。針對這些問題，... （共11頁）