基于INGO-Transformer的模擬電路元件故障預(yù)測(cè)

摘要： 針對(duì)模擬電路元件易受外部環(huán)境影響發(fā)生故障、故障特征提取困難、無法準(zhǔn)確預(yù)測(cè)及診斷元件故障等問題，基于Transformer模型提出改進(jìn)INGO-Transformer方法。采用小波包分解（WPD）對(duì)原始數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取，使用特征向量之間的三角距離來表征模擬電路中元件的退化狀態(tài)，使用INGO優(yōu)化Transformer的訓(xùn)練超參數(shù)構(gòu)建預(yù)測(cè)模型。以Sallen-Key帶通濾波電路與鏡像... （共9頁）