主成分分析及聚類方法在碲鎘汞晶片參數(shù)判別中的應(yīng)用研究

摘要： 基于主成分分析和聚類方法提出了一種碲鎘汞晶片參數(shù)篩選方法，建立了對碲鎘汞晶片參數(shù)進(jìn)行篩選的數(shù)據(jù)模型，模型中通過對初始晶片數(shù)據(jù)進(jìn)行清洗和分析，利用主成分分析（PCA）降維法和基于密度的聚類算法（DBSCAN），確定了晶片數(shù)據(jù)中最密集的區(qū)域。同時利用流片后得到高性能芯片的優(yōu)質(zhì)碲鎘汞晶片參數(shù)擬合邊界橢圓曲線，并將其作為優(yōu)質(zhì)晶片的判斷標(biāo)準(zhǔn)，能夠根據(jù)輸入的晶片電學(xué)和光學(xué)參數(shù)生成晶片評級，... （共7頁）