表層氧化對單晶鐵薄膜電子磁手性二向色性譜的影響研究

摘要： 電子磁手性二向色性技術(shù)(EMCD)是一種基于透射電鏡電子能量損失譜(EELS)的磁表征技術(shù)，可實現(xiàn)亞納米級高空間分辨、元素分辨的局域軌道自旋磁矩定量測量。本文以單晶鐵薄膜為例研究了金屬透射樣品表面氧化對EMCD信號的影響。在Fe/MgO(001)薄膜的平面樣品中，從不同區(qū)域中提取一系列低能損失譜、Fe-L_(2,3)峰常規(guī)在軸芯能級損失譜和動量轉(zhuǎn)移矢量分辨的離軸芯能級損失譜(q... （共9頁）