TESCAN AMBER X 2

摘要： <正>獨(dú)特的無漏磁超高分辨SEM與等離子體FIB的完美組合,同時具備高精度和高效率的特點(diǎn),為多模態(tài)材料表征和全自動TEM樣品制備提供了最全面的解決方案TESCAN AMBER X 2搭載了Mistral~(TM)型等離子體FIB鏡筒以及第三代BrightBeam~(TM)型無漏磁超高分辨SEM鏡筒,通過TEM AutoPrep~(TM)軟件實(shí)現(xiàn)完全自動化的TEM樣品制備,可以精... （共1頁）