基于改進(jìn)YOLOv8的SOP芯片缺陷檢測研究
摘要: 針對SOP芯片缺陷檢測中因缺陷特征相似、缺陷目標(biāo)小、缺陷尺度差異大造成的檢測精度低的問題,本文提出基于改進(jìn)YOLOv8的缺陷檢測方法。通過使用SPD-Conv模塊解決卷積池化過程中的信息丟失問題,并引入SimAM注意力機(jī)制,使模型學(xué)習(xí)三維通道中的信息,提高模型對缺陷特征的感知能力;同時(shí)使用BiFPN代替原特征提取網(wǎng)絡(luò),使用雙向傳遞的多尺度特征融合,使模型能更好的區(qū)分擁有相似特征... (共12頁)
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