壽命分散性對IGBT器件串聯(lián)壽命評估的影響

摘要： IGBT器件采用串聯(lián)拓撲增加耐壓等級以滿足實際應用需求，但多器件串聯(lián)增加了老化參數(shù)的監(jiān)測數(shù)量和難度。為了研究壽命分散性對器件串聯(lián)壽命的影響，揭示不同失效模式下串聯(lián)IGBT與單一IGBT的壽命差異，首先，分析了功率循環(huán)中現(xiàn)有的老化參數(shù)監(jiān)測方法，提出了壽命的特征分析模型；然后，結(jié)合失效分離的試驗方法，分析了功率循環(huán)中鍵合線失效和焊料老化兩種典型失效形式下的壽命分散性對串聯(lián)壽命評估的... （共8頁）