面向同軸封裝金屬底座缺陷的Metal-YOLO檢測(cè)算法

摘要： 針對(duì)同軸封裝金屬底座缺陷檢測(cè)中存在的檢測(cè)精度不足、誤檢和漏檢的問題，提出了一種基于YOLO v5s的改進(jìn)模型，即Metal-YOLO檢測(cè)算法。通過引入跨層特征增強(qiáng)連接（CFEC）顯著增強(qiáng)模型對(duì)復(fù)雜小目標(biāo)缺陷的表征能力，從而有效降低漏檢率。為進(jìn)一步提升模型對(duì)不同尺度缺陷特征的感知和判別能力，在模型中融入自適應(yīng)注意力模塊（AAM），有效減少背景信息的干擾。此外，針對(duì)完全交并比（CI... （共9頁）